第615章 资源整合
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  “我们在尝试將您的修正因子引入到16nm finfet的pdk初始参数库，模擬结果在亚閾值区出现了约5%的系统性偏差。
  我怀疑是迁移率退化模型（μ degradation model）的耦合项没有完全解耦。
  想请教您，当初在28nm节点，是如何处理柵介质陷阱电荷（trap charge）对迁移率影响的权重係数？”
  李维明彻底愣住了。
  他呆呆地看著冯亦如，又低头看看自己的笔记，手指无意识地摩挲著那道划痕。
  刚才的怒火如同被戳破的气球，瞬间消失得无影无踪。
  只剩下一种复杂的情绪。
  他研究了一辈子的东西，在这个年轻人嘴里，被如此精准而深入地剖析著核心痛点。
  他当然知道对方之前是研究资料库的，难不成世间真的有天才？
  其实李维明是关心则乱，是他自己的工作笔记写得太详细，再加上遇到一个学习能力强的狠人。
  “你......”李维明的喉结滚动了一下，声音低沉，“你做过器件？”
  “没有。”冯亦如坦然回答，隨即话锋一转：
  “但我们华兴海思，每天有不知道多少个设计正在流片。
  我们需要的是能支撑起先进工艺、能真正被晶圆厂信任、能设计出可靠晶片的工具。
  这，才是您心血的真正归宿和价值的延伸，而不是困在一家被收购、前途未卜的公司里。”